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XAFSの基礎と応用 貸出可

日本XAFS研究会／編 -- 講談社 -- 2017.7 -- 433.57 ／433.57

https://www2.tosyo-saga.jp/kentosyo2/opac/switch-detail.do?bibid=1102041522

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所蔵

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所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
県立（本館）	新庫２層	/433.5/Z1/	115847972	一般図書	利用可	在架

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資料詳細

タイトル	XAFSの基礎と応用
著者	日本XAFS研究会 ／編
出版者	講談社
出版年	2017.7
ページ数	10,341p
大きさ	21cm
一般件名	エックス線分光分析
NDC分類	433.57 ／ 433.57
内容紹介	物質を構成する特定元素のまわりの局所的な構造を調べる有効な手法として幅広く用いられるX線吸収微細構造(XAFS)分光法。XAFSの理論から、一般的な解析法、実験の基盤技術や応用展開技術、関連手法までを解説する。
ISBN	978-4-06-153295-3

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