• 1 件中、 1 件目

半導体デバイスの不良・故障解析技術 貸出可

二川 清／編著 -- 日科技連出版社 -- 2019.12 -- 549.8 ／549.8

https://www2.tosyo-saga.jp/kentosyo2/opac/switch-detail.do?bibid=1102254136

• • 予約かごへ
• • 本棚へ

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
県立（本館）	公開閲覧	/549.8/N73/	116143272	一般図書	利用可	在架

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル	半導体デバイスの不良・故障解析技術
叢書名	信頼性技術叢書
著者	二川 清 ／編著, 上田 修 ／著, 山本 秀和 ／著
出版者	日科技連出版社
出版年	2019.12
ページ数	8,218p
大きさ	21cm
一般件名	半導体 , 信頼性(工学)
NDC分類	549.8 ／ 549.8
内容紹介	半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
ISBN	978-4-8171-9685-9

ページの先頭へ

所蔵場所が「大和書庫」（所蔵場所の名称が、「大和講堂」、「大和研修」、
「大和新１」、「大和新２」、「大和新３」）の本については、遠方に保管
しているため、お取り寄せに１０日程度かかる場合がありますので、
ご了承ください。（貸出中の場合は、返却後となります。）
なお、「大和書庫」の本は、あらかじめ予約をお願いいたします。

状態が「市町巡回貸出」の本については、市町図書館支援のため優先貸出中です。
当館での提供開始までに最長3か月程度かかりますので、ご了承ください。