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何のためのテスト? 　

ケネス・J.ガーゲン／著 -- ナカニシヤ出版 -- 2023.3 -- 371.7 ／371.7

https://www2.tosyo-saga.jp/kentosyo2/opac/switch-detail.do?bibid=1102505121

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所蔵

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所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
県立（本館）	公開閲覧	/371.7/G36/	116488461	一般図書	利用可	在架

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資料詳細

タイトル	何のためのテスト?
副書名	評価で変わる学校と学び
著者	ケネス・J.ガーゲン ／著, シェルト・R.ギル ／著, 東村 知子 ／訳, 鮫島 輝美 ／訳
出版者	ナカニシヤ出版
出版年	2023.3
ページ数	8,223p
大きさ	21cm
一般件名	教育評価
NDC分類	371.7 ／ 371.7
内容紹介	そのテスト、本当に必要ですか? 社会構成主義の第一人者と教育学者が、これまで教育の変革の大きな障壁となってきた評価のあり方を徹底的に検証し、その代替案を示す。
ISBN	978-4-7795-1704-4

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